玻璃基材上的金屬塗層

玻璃是一種多功能且有前途的新型基材，具有適合多種應用的優點。 玻璃是穩定的材料，平坦光滑，表面無變形。與陶瓷和矽基板相比，它不僅是一種很好的絕緣體，還具有較低的翹曲性、較低的電損耗，並且耐溫度變化。

它正在成為先進電子封裝（例如中介層、RDL 和 TGV 以及 RF 通訊、光學和成像感測器）的流行基板。對於半導體產業來說，必須對玻璃處理、通孔/金屬化等製程做出新的解決方案和改進，以全面採用全玻璃基板。由於玻璃的透明度和高反射表面，玻璃的檢查也帶來了挑戰。

X 射線螢光 (XRF) 提供了一種快速可靠的方法 準確測量玻璃基板上金屬沉積的厚度和成分。 Bowman 的所有 XRF 系統都配備了能夠測量多層薄膜的矽漂移偵測器 (SDD)。此外，XRF 是非破壞性的，且樣品製備時間最短，特別是與橫斷面和 SEM 等方法相比。結合可選的系統自動化，XRF 可以完全整合到目前的生產線中。

結論

Bowman XRF 系統是一種多功能分析工具，用於測量玻璃塗層以及其他鍍層厚度和成分以及溶液分析。其他方法所需的時間、人員和儀器成本降低，使 Bowman XRF 成為絕佳的替代方案。請致電我們的支援團隊以獲取更多資訊。