成分分析技術主要用於對未知物、未知成分等進行分析，通過成分分析技術可以快速確定目標樣品中的各種組成成分是什麼，幫助您對樣品進行定性定量分析，Ｃ分子材料的材質、原材料、助劑、特定成分及含量、異物等。
成分分析技術按照對象和要求：微量樣品分析 和 痕量成分分析 ，按照分析的目的：體相元素成分分析、表面成分分析和微區成分分析。
常見的元素成份材料分析有：
- 原子吸收光譜儀（AAS）
- 電感耦合等離子體原子發射光譜儀
- 電感耦合等離子體質譜儀（ICP-MS）
- X射線螢光光譜儀（XRF）
- X射線衍射儀（XRD）
其中以X射線螢光光譜儀（XRF）為例，分為波長色散型X射線螢光光譜儀(WD-XRF)和能譜色散型X-射線螢光光譜儀(ED-XRF)。
原理：用X射線照射試樣時，試樣可以被激發出各種波長的螢光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線強度，以進行定性和定量分析。
特點：制樣簡單、快速,樣品整個表面、表面某一部分或特定點處的分析,分析速度快,穩定性高、精度高；動態範圍寬（從ppm至100%）；先進的無標樣分析軟體包，可以對完全未知的樣品進行簡單、快速的分析。
適合分析材料：鋁合金、不鏽鋼、鉻鉬合金、金屬管道和法蘭材料，黃銅、青銅以及其他銅合金，金屬焊料、鈦合金、工具鋼、鎳基或鈷基等「超級合金」進行材料牌號匹配和元素定量分析。
參考資料：漲知識 ∣ 材料成分分析方法大全（一）