創新技術將小光斑、高通量 X 射線束與大窗口矽漂移探測器 (SDD) 結合，實現無與倫比的速度、精度和性能。

Bowman 的M 系列µ-spot 光學儀器在聖地牙哥會議中心舉行的 IPC APEX 博覽會上榮獲新產品介紹獎。該獎項由電路組裝和印刷電路設計及工廠頒發，旨在表彰 M 系列使用 µ-spot 多毛細管光學元件實現的先進薄膜測量。

由執業行業工程師組成的獨立小組選出了第十屆電子裝配設備、材料、軟體和 PCB 製造年度獎的獲獎者。官。 “這項創新技術將小光斑、高通量 X 射線束與大窗口矽漂移探測器 (SDD) 相結合，顯著提高了儀器的速度、精度和性能。”