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【新聞】新型 XRF 儀器可測量半導體/微電子製造的最小特徵

2018-06-04

誰受益?

  • 需要精確測量汽車零件、管道部件、切削工具和其他大型樣品上的塗層厚度的加工人員
  • 想要具有「三重功能」的 XRF 測量系統的精加工者 -使用一台儀器進行塗層分析、溶液分析和元素分析
  • 需要符合印刷電路板電鍍新 IPC 規範 4552-A 的精加工商

Bowman 推出了其大型組件「L 系列」XRF,適用於尺寸最大為 22" X 24" X 13" 的零件。

Bowman L 系列桌上型儀器專為需要精確控制鍍層厚度的 OEM 和合約商店而設計,以防止電鍍不足導致的品質問題以及電鍍過度帶來的成本後果。

Bowman L 系列XRF 可以快速、精確地測定各種塗層的厚度:從鋁到鈾(元素週期表中的13 到92)。可以是合金。

L 系列裝置的主要特點包括 Bowman 專有的微點聚焦 X 射線管和溫度穩定的矽 PIN 二極體偵測器。此檢測器具有明確的元素峰,無需二次過濾器。最小的峰值位置漂移可確保隨時間的推移保持最高的穩定性,並延長重新校準之間的間隔。

Bowman XRF 儀器的獨特之處在於 X 射線管和偵測器非常接近,這項系統架構的特點是可在更短的測量時間內產生比傳統 XRF 設備多三倍的光子數。

有關L 系列 XRF 塗層測量的更多信息

 

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