XRF 對金屬元素高度敏感，尤其是在元素週期表中 Ti-U 等元素。對於塗層厚度分析，XRF 可應用於任何金屬或非金屬基材上的任何單層或多層金屬塗層。
對於合金分析，XRF 可以確定每種合金元素的百分比成分並確定合金牌號名稱。對於溶液分析，可以量化電鍍液中的金屬離子以進行製程控制。
Bowman系統主要特點
- 只需最少的樣品製備即可進行無損檢測
- 快速分析 - 數據在幾秒鐘內可呈現
- 操作成本低廉：新手操作員即可操作，無需專門的科學家
- 多功能技術可以適應不同類型的基質樣品
- 大樣本微觀特徵的小點分析
- 同時分析大多數金屬元素
- 廣泛接受的工業驗證測試方法
比較 X 光螢光儀器中所使用的不同偵測器技術
充氣支柱計數器探測器
- 高基線噪音
- 解析度差
- 溫度不穩定 & 濕度變化
- 需要經常重新校準
矽 PIN 二極體偵測器
- 噪音低
- 解析度高
- 檢測極限大
- 珀爾帖致冷器（Peltier cooled）:非常穩定 – 無氣候影響
矽漂移探測器 (SDD)
- 最低基線噪音
- 最高計數檢測
- Highest resolution
- 最高解析度
- 最大的多功能性，適用於最廣泛的元素範圍
- 珀爾帖致冷器（Peltier cooled）:非常穩定 – 無氣候影響
所有 Bowman XRF 儀器均使用矽漂移探測器，以實現最高解析度、最低雜訊水平和最大整體穩定性。
這確保了最精確的塗層厚度測量和元素分析。