產品介紹
[G系列] 標準固定檯面_檯面尺寸:330mm x 305mm_行程:--

[G系列] 標準固定檯面

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Bowman XRF塗層測量儀器是美國製造的精密台式機,用於塗層厚度測量,元素分析和電鍍溶液測量。 憑藉下一代技術,包括最新和最好的檢測器和複雜的軟體,Bowman XRF還可以了解樣品中存在哪些元素。儀器可以同時測量多達五層塗層,其中兩層可以是合金。

庫存剩餘 10 件

Bowman XRF G系列 非常適合實驗室和生產線,特別是在使用者具有以下條件的情況下:

  • 有限的檯面空間
  • 有限的預算
  • 偏好使用電動 Z 軸進行「自下而上」操作
  • 需要快速、輕鬆地定位較小的樣品
  • 需符合 IPC-4552、4553、4554 和 4556
  • STM B568 和 ISO 3497
  • 渴望升級舊 XRF 的性能和效率 - 並獲得豐厚的舊換新優惠!
  • RoHS 合規性的必要性

適用於珠寶行業黃金和貴金屬分析的高性能X射線熒光分析儀。Bowman X-ray系統是用於測量底材上塗層厚度的精密台式儀器。通過我們專門的檢測技術和先進的軟體,我們還可以了解樣品中存在哪些元素。它使用專門設計的微點聚焦X射線管作為能量源,溫度穩定的矽PIN二極管作為檢測器和寬帶寬多通道放大器來對輻射光子進行分類和計數。Bowman Xralizer軟體使用獨特的軟體算法,從檢測到的特性光中識別和測量材料的厚度。並使用與x射線光學軸對齊的微焦點攝像機來精確選擇要測量的樣品上的面積, 及由聚焦雷射手動或自動控制的升降機適應不同高度的測量樣品。

G 系列最顯著的特點是使用電動 Z 軸和具備雷射自動對焦的“自下而上”系統。可選配有 38mm X 38mm行程的手動微調XY 載物台有助於輕鬆定位零件。與B系列等其他型號相比,測量艙相對較小。較小的測量艙和占地面積非常適合珠寶和其他貴金屬分析應用,以及連接器和緊固件等組件。

 

產品規格

元素範圍 鋁 13 到鈾 92
X射線激發 50 W(50kV和1mA)微聚焦W陽極管(可選其它陽極元素)
檢測器 分辨率為 145eV(Mn Ka)或更高的SDD檢測器
分析層分析和元素的數量 每層5層(4層+底層)和每一層可達10個元素,同時分析多達25個元素
濾波器/準直器 4個主濾波器/單準直器(可選配雙準直器)
焦距深度 具有雷射和自動對焦的單一固定焦距
數字脈衝處理 4096CH數字多通道分析儀,具有靈活的成型時間,自動信號處理包括無效時間校正和逃逸峰校正
電腦 Intel,CORE i5 3470處理器,8GB DDR3內存,Microsoft Windows 10 Professional 64bit等效能
相機光學 1/4〃(6mm)CMOS-1280×720 VGA分辨率
影像倍率 30倍光學放大和7倍數位放大(可選配55倍光學放大)
電源供應 150W,100-240 伏特,頻率範圍為 47Hz 至 63Hz
重量 25公斤
標準固定樣品台 工作台尺寸:330 mm x 305 mm
行程:--
內部尺寸 高度:100 mm,寬度:330 mm,深度:305 mm
外形尺寸 高度:330 mm,寬度:355 mm,深度:450 mm

 

 

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