Bowman XRF P系列 台式機XRF最適合具有以下條件的客戶:
- 非常小的部件/測點,如半導體、連接器或PCB
- 每批新材需要料測試許多樣品或位置
- 需要自動測量多個樣品
- 多樣化的樣品尺寸與應用
- 需要滿足IPC-4552A的要求
高性能X射線熒光分析儀用於電子,半導體和通用金屬加工,以及金和珠寶塗料。Bowman X-ray系統是用於測量底材上塗層厚度的精密台式儀器。通過我們專門的檢測技術和先進的軟體,我們還可以了解樣品中存在哪些元素。它使用專門設計的微點聚焦X射線管作為能量源,溫度穩定的SDD作為檢測器和寬帶寬多通道放大器來對輻射光子進行分類和計數。Bowman Xralizer軟體使用獨特的軟體算法,從檢測到的特性光中識別和測量材料的厚度。並使用與X射線光學軸對齊的微焦點攝像機來精確選擇要測量的樣品上的面積。由聚焦雷射手動或自動控制的Z軸適應不同高度的測量樣品。
Bowman P系列是Bowman最基本的"自上而下"測量的XRF系統。它配備了精密可編程的X-Y平台,與固定台面相比具有多種優勢。滑鼠/軟體能夠讓使用者輕鬆控制台面至測量位置。並可自定義程序以自動測量多個樣品位置。
產品規格
元素範圍 | 鋁 13 到鈾 92 |
X射線激發 | 50 W(50kV和1mA)微聚焦W陽極管(可選其它陽極元素) |
檢測器 | 分辨率為 145eV(Mn Ka)或更高的SDD檢測器 |
分析層分析和元素的數量 | 每層5層(4層+底層)和每一層可達10個元素,同時分析多達25個元素 |
濾波器/準直器 | 4個主濾波器/4支準直器 |
焦距深度 | 具有雷射和自動對焦的單一固定焦距(可選多段變焦系統) |
數字脈衝處理 | 4096CH數字多通道分析儀,具有靈活的成型時間,自動信號處理包括無效時間校正和逃逸峰校正 |
電腦 | Intel,CORE i5 3470處理器,8GB DDR3內存,Microsoft Windows 10 Professional 64bit等效能 |
相機光學 | 1/4〃(6mm)CMOS-1280×720 VGA分辨率 |
影像倍率 | 30倍光學放大和7倍數位放大(可選配55倍光學放大) |
電源供應 | 150W,100-240 伏特,頻率範圍為 47Hz 至 63Hz |
重量 | 50公斤 |
特大可編程 XY | 檯面尺寸:810mm x 835mm 行程:400mm x 400mm |
內部尺寸 | 高度:140 mm,寬度:335 mm,深度:310 mm |
外形尺寸 | 高度:520 mm,寬度:980 mm,深度:810 mm |
有問題想詢問嗎?
與我們聯絡