Bowman XRF P系列 台式機XRF最適合具有以下條件的客戶：
- 非常小的部件/測點，如半導體、連接器或PCB
- 每批新材需要料測試許多樣品或位置
- 需要自動測量多個樣品
- 多樣化的樣品尺寸與應用
- 需要滿足IPC-4552A的要求
高性能X射線熒光分析儀用於電子，半導體和通用金屬加工，以及金和珠寶塗料。Bowman X-ray系統是用於測量底材上塗層厚度的精密台式儀器。通過我們專門的檢測技術和先進的軟體，我們還可以了解樣品中存在哪些元素。它使用專門設計的微點聚焦X射線管作為能量源，溫度穩定的SDD作為檢測器和寬帶寬多通道放大器來對輻射光子進行分類和計數。Bowman Xralizer軟體使用獨特的軟體算法，從檢測到的特性光中識別和測量材料的厚度。並使用與X射線光學軸對齊的微焦點攝像機來精確選擇要測量的樣品上的面積。由聚焦雷射手動或自動控制的Z軸適應不同高度的測量樣品。
Bowman P系列是Bowman最基本的"自上而下"測量的XRF系統。它配備了精密可編程的X-Y平台，與固定台面相比具有多種優勢。滑鼠/軟體能夠讓使用者輕鬆控制台面至測量位置。並可自定義程序以自動測量多個樣品位置。
產品規格
| 元素範圍 | 鋁 13 到鈾 92 |
| X射線激發 | 50 W（50kV和1mA）微聚焦W陽極管（可選其它陽極元素） |
| 檢測器 | 分辨率為 145eV（Mn Ka）或更高的SDD檢測器 |
| 分析層分析和元素的數量 | 每層5層（4層+底層）和每一層可達10個元素，同時分析多達25個元素 |
| 濾波器/準直器 | 4個主濾波器/4支準直器 |
| 焦距深度 | 具有雷射和自動對焦的單一固定焦距（可選多段變焦系統） |
| 數字脈衝處理 | 4096CH數字多通道分析儀，具有靈活的成型時間，自動信號處理包括無效時間校正和逃逸峰校正 |
| 電腦 | Intel，CORE i5 3470處理器，8GB DDR3內存，Microsoft Windows 10 Professional 64bit等效能 |
| 相機光學 | 1/4〃（6mm）CMOS-1280×720 VGA分辨率 |
| 影像倍率 | 30倍光學放大和7倍數位放大（可選配55倍光學放大） |
| 電源供應 | 150W，100-240 伏特，頻率範圍為 47Hz 至 63Hz |
| 重量 | 50公斤 |
| 特大可編程 XY： | 台面尺寸：810mm x 835mm 行程：400mm x 400mm |
| 內部尺寸 | 高度：140 mm，寬度：335 mm，深度：310 mm |
| 外形尺寸 | 高度：520 mm，寬度：980 mm，深度：810 mm |
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