產品介紹
[P系列] 特大自動檯面_檯面尺寸:810mm x 835mm_行程:400mm x 400mm

[P系列] 特大自動檯面

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Bowman XRF塗層測量儀器是美國製造的精密台式機,用於塗層厚度測量,元素分析和電鍍溶液測量。 憑藉下一代技術,包括最新和最好的檢測器和複雜的軟件,Bowman XRF還可以了解樣品中存在哪些元素。儀器可以同時測量多達五層塗層,其中兩層可以是合金。

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Bowman XRF P系列 台式機XRF最適合具有以下條件的客戶:

  • 非常小的部件/測點,如半導體、連接器或PCB
  • 每批新材需要料測試許多樣品或位置
  • 需要自動測量多個樣品
  • 多樣化的樣品尺寸與應用
  • 需要滿足IPC-4552A的要求

高性能X射線熒光分析儀用於電子,半導體和通用金屬加工,以及金和珠寶塗料。Bowman X-ray系統是用於測量底材上塗層厚度的精密台式儀器。通過我們專門的檢測技術和先進的軟體,我們還可以了解樣品中存在哪些元素。它使用專門設計的微點聚焦X射線管作為能量源,溫度穩定的SDD作為檢測器和寬帶寬多通道放大器來對輻射光子進行分類和計數。Bowman Xralizer軟體使用獨特的軟體算法,從檢測到的特性光中識別和測量材料的厚度。並使用與X射線光學軸對齊的微焦點攝像機來精確選擇要測量的樣品上的面積。由聚焦雷射手動或自動控制的Z軸適應不同高度的測量樣品。

Bowman P系列是Bowman最基本的"自上而下"測量的XRF系統。它配備了精密可編程的X-Y平台,與固定台面相比具有多種優勢。滑鼠/軟體能夠讓使用者輕鬆控制台面至測量位置。並可自定義程序以自動測量多個樣品位置。

 

產品規格

元素範圍 鋁 13 到鈾 92
X射線激發 50 W(50kV和1mA)微聚焦W陽極管(可選其它陽極元素)
檢測器 分辨率為 145eV(Mn Ka)或更高的SDD檢測器
分析層分析和元素的數量 每層5層(4層+底層)和每一層可達10個元素,同時分析多達25個元素
濾波器/準直器 4個主濾波器/4支準直器
焦距深度 具有雷射和自動對焦的單一固定焦距(可選多段變焦系統)
數字脈衝處理 4096CH數字多通道分析儀,具有靈活的成型時間,自動信號處理包括無效時間校正和逃逸峰校正
電腦 Intel,CORE i5 3470處理器,8GB DDR3內存,Microsoft Windows 10 Professional 64bit等效能
相機光學 1/4〃(6mm)CMOS-1280×720 VGA分辨率
影像倍率 30倍光學放大和7倍數位放大(可選配55倍光學放大)
電源供應 150W,100-240 伏特,頻率範圍為 47Hz 至 63Hz
重量 50公斤
特大可編程 XY 檯面尺寸:810mm x 835mm
行程:400mm x 400mm
內部尺寸 高度:140 mm,寬度:335 mm,深度:310 mm
外形尺寸 高度:520 mm,寬度:980 mm,深度:810 mm

 

 

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