BOWMAN O系列
● X射線光學系統，用於使用μ-斑點多導毛細管光學進行先進的薄膜測量。
● BOWMAN自豪地介紹了第二代尖端XRF儀器X射線光學系統。測點小，高通量X射線束和大窗口SDD檢測器結合了無與倫比的速度和性能。它可以成為減少時間，金錢和材料浪費的完美工具。
Bowman O series 同時具備高性能和小尺寸的X射線光斑。這是通過多毛細管光學系統實現的，該系統將來自射線管出口窗口的X射線聚焦到50μmFWHM的光斑尺寸，同時幾乎保留100％的X射線通量。結果是對於量測非常小的部件或薄塗層具有更高的靈敏度。多導毛細管光學器件與類似尺寸的准直器系的比較，使用更短的量測時間亦可得到更佳的重複性。
Bowman O series 專為ENIG，ENEPIG和Electroless Nickel％P分析而設計，O系列非常適合PC板、引線框架、細線和更小光斑尺寸要求的晶圓的應用。標準配置包括50μm多導毛細管光學器件、可編程樣品台。該相機具有55倍的視頻放大率和7倍的數位變焦。
產品規格
| 元素範圍： | 鋁 13 到鈾 92 |
| X射線激發： | 50 W（50kV和1mA）微聚焦W陽極管（可選其它陽極元素） |
| 檢測器： | 分辨率為 145eV（Mn Ka）或更高的SDD檢測器 |
| 分析 層分析和元素的數量： |
每層5層（4層+底層）和每一層可達10個元素，同時分析多達25個元素 |
| 濾波器/準直器： | 4個主濾波器/多導毛細管FWHM 50um，實際光斑大約100um |
| 焦距深度： | 具有雷射和自動對焦的單一固定焦距0.1" |
| 數字脈衝處理： | 4096CH數字多通道分析儀，具有靈活的成型時間，自動信號處理包括無效時間校正和逃逸峰校正 |
| 電腦： | Intel，CORE i5 3470處理器，8GB DDR3內存，Microsoft Windows 10 Professional 64bit等效 |
| 相機光學： | 1/4″（6mm）CMOS-1280×720 VGA分辨率 |
| 影像倍率： | 55倍光學放大和7倍數位放大 |
| 電源供應： | 150W，100-240 伏特，頻率範圍為 47Hz 至 63Hz |
| 重量： | 53公斤 |
| 標準電動/可編程 XY： | 台面尺寸：380mm x 330mm / 行程：150mm x 125mm |
| 擴展可編程 XY： | 台面尺寸：710mm x 635mm / 行程：254mm x 254mm |
| 特大可編程 XY： | 台面尺寸：810mm x 835mm / 行程：400mm x 400mm |
| 內部尺寸： | 高度：140 mm，寬度：335 mm，深度：310 mm |
| 外形尺寸： | 高度：450 mm，寬度：710 mm，深度：755 mm |