XRF可用於哪裡
     Bowman Analytics X射線儀器利用X射線熒光原理測量厚度和組成。用來自X射線管的X射線轟擊樣品,並產生熒光X射線。通過測量熒光X射線的能量,我們可以知道樣品中存在哪些元素,並且通過計數熒光X射線的光子,我們可以確定樣品的厚度和元素的組成。

     X射線對人眼是不可見的。需要一種稱為X射線檢測器的裝置將X射線轉換為可以測量和處理的信號,以便我們可以從X射 線中提取信息。檢測器與電子設備一起將X射線轉換成電信號(數字脈衝處理器)。檢測器屬性有三個主要標準:能量分辨率,檢測效率和穩健性。能量分辨率是分離具有小能量差的兩個光子的能力。檢測效率是指記錄X射線的效率。所有Bowman Analytics X射線儀器都使用最新技術的固態檢測器,稱為矽PIN檢測器或矽漂移檢測器。

     一旦從樣品中收集XRF,就使用軟體將X射線強度轉換成厚度或組成。該軟體由兩部分組成:光譜過程和定量分析。頻譜處理軟件的功能是從頻譜中可靠地提取X射 線強度。這涉及能量校準、頻譜穩定、峰值識別、無效時間校正、和峰校正、逃逸峰校正、重疊校正和背景去除等任務。

     定量分析軟件計算XRF強度的厚度和組成。由於矩陣效應,強度和厚度/組成之間沒有簡單的關係。矩陣效應是元素間或層間效應。來自一個元素的熒光X射線可以被樣品中的其他元素吸收或增強。因此,一個元素的組成/厚度與熒光X射線強度的關係取決於材料中存在的其他元素。這取決於這些元素是什麼,以及這些元素中有多少是存在的。

     有兩種方法進行定量分析;經驗法(Emp)和FP法。經驗法,如干擾係數法,α係數法等,用多項式函數近似矩陣效應。該方法要求在校準中使用小範圍內的多個標準。優點是這種方法不需要復雜的計算,而且易於理解和實現。

     FP法通過理論計算校正矩陣效應。計算基於物理學和基本物理參數定律。理論上,FP不需要任何校準,並可在大範圍內工作。然而實際上,仍然需要校準以最小化物理參數和測量系統不確定性的誤差。FP的算法在20世紀70年代出版,各種FP軟件系統之間的差異不顯著。FP cal比經驗公式更複雜,需要更多的計算能力,這在現在很容易達到。

     Bowman Analytics在Bowman Xray系統軟體平台上採用了兩種方法(Emp和FP)。