O系列:80um多導型
     Bowman XRF塗層測量儀器是美國製造的精密台式機,用於塗層厚度測量,元素分析和電鍍溶液測量。 憑藉下一代技術,包括最新和最好的探測器和複雜的軟件,Bowman單元還可以了解樣品中存在哪些元素。 儀器可以同時測量多達五個塗層,其中兩個可以是合金。
BOWMAN O系列
● X射線光學系統,用於使用μ-斑點多導毛細管光學進行先進的薄膜測量
● BOWMAN自豪地介紹了第二代尖端XRF儀器X射線光學系統。測點小,高通量X射線束和大窗口SDD檢測器結合了無與倫比的速度和性能。它可以成為減少時間,
   金錢和材料浪費的完美工具。

主要特色
您是否正在使用需要精確塗層厚度測量的小部件? 需要快速,多點,自動分析?










產品規格
X射線激發:
50 W Mo靶,毛細管光學@ 80um FWHM
檢測器:
矽漂移檢測器,分辨率為135eV
分析層和元素數量:
每層5層(4層+底層)和每一層可達10個元素,同時分析多達25個元素
濾波器:
2個主濾波器
焦距深度:
固定0.1"
數字脈衝處理:
4096 CH數字多通道分析儀,具有靈活的成型時間,自動信號處理包括無效時間校正和逃逸峰校正
電腦:
Intel,CORE i5 3470處理器,8GB DDR3內存,Microsoft Windows 10 Professional 64bit等效
相機光學:
1/4"CMOS-1280×720 VGA分辨率,250X雙攝像頭或45X與單相機在15"屏幕上
電源:
150W,100〜240V,頻率範圍47Hz〜63Hz
重量:
53公斤
可編程XY:
自動台面尺寸:15"x 13"|行程:6"x 5"
內部尺寸:
高度:140mm(5.5"),寬度:310mm(12"),深度:340mm(13")
外部尺寸:
高度:450mm(18"),寬度:450mm(18"),深度:600mm(24")