M系列:15um多導型
     Bowman XRF塗層測量儀器是美國製造的精密台式機,用於塗層厚度測量,元素分析和電鍍溶液測量。 憑藉下一代技術,包括最新和最好的探測器和複雜的軟件,Bowman單元還可以了解樣品中存在哪些元素。 儀器可以同時測量多達五個塗層,其中兩個可以是合金。
BOWMAN M系列
● X射線光學系統,用於使用μ點多導毛細管光學進行先進薄膜測量,以實現更小的斑點尺寸要求
● Bowman M系列使用μ-spot多毛細管光學元件實現先進的薄膜測量。這款先進的XRF儀器具有小點,高通量X射線束和大窗口矽漂移檢測器,具有無與倫比的速
   度,精度和性能。
● 專為ENIG,ENEPIG和Electroless Nickel%P分析而設計,M系列非常適合包括PC板,引線框架,細線和更小光斑尺寸要求的晶圓的應用。






● 在與源距離相同的距離處實現比准直系統高出一百倍以上的通量。









● 雙攝像頭 - 單擊即可呈現250x:







產品規格
X射線激發:
50 W Mo靶Flex-Beam毛細管光學@ 15 FWHM
檢測器:
矽漂移檢測器,分辨率為135eV
分析層和元素數量:
每層5層(4層+底層)和每一層可達10個元素,同時分析多達25個元素
濾波器:
4個主濾波器
焦距深度:
固定0.05“
數字脈衝處理:
4096 CH數字多通道分析儀,具有靈活的成型時間,自動信號處理包括無效時間校正和逃逸峰校正
電腦:
Intel,CORE i5 3470處理器,8GB DDR3內存,Microsoft Windows 10 Professional 64bit等效
相機光學:
1/4“CMOS-1280×720 VGA分辨率,250X雙攝像頭或45X與單相機在15”屏幕上
電源:
150W,100〜240V,頻率範圍47Hz〜63Hz
重量:
70公斤
可編程XY:
自動台面尺寸:17“x 16”|行程:6.5“x 6.5”高精度
內部尺寸:
高度:140mm(5.5“),寬度:310mm(12”),深度:340mm(13“)
外部尺寸:
高度:500mm(20“),寬度:450mm(18”),深度:600mm(24“)